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日置阻抗分析仪的测量模式
点击次数:995 更新时间:2019-04-26
  日置阻抗分析仪是适用于元件和电路有效阻抗测量和分析的集成解决方案。覆盖了很宽的测试频率范围(40Hz至110MHz),具有±0.08%的基本阻抗精度。其优异的高Q值/低D值精度使其能分析低损耗元件。其宽信号电平范围可用于在实际工作条件下评估器件。测试信号电平范围为5mV至1Vrms或200uA至20mArms,直流偏置范围为0V至±40V或0mA至±100mA。*校准和误差补偿功能避免了进行夹具内器件测量时的测量误差。
  日置阻抗分析仪具备高精度、速度,且经济型多功能,能够执行的元件测试。可搭配DC Bias 机型。人性化操作介面设计同步于趋势,简单操作快速导入产线。多项参数同时测是只需一次设定,一次同时显示。高精密值的量测数据的功效,为元件和材料*的测试仪器。
  日置阻抗分析仪测量模式:
  1.LCR模式:单频点条件下测量
  2.分析仪模式:扫频测量,等效电路分析
  3.连续测量模式:用所保存的条件下进行连续测量
  日置阻抗分析仪能在阻抗范围和宽频率范围进行测量,它利用物体具有不同的导电作用,在物体表面加一固定的低电平电流时,通过阻抗计算出物体的各种器件、设备参数和性能优劣。日置/HIOKI 阻抗分析仪在测量中实现高速及高稳定性兼顾,缩短间歇,提高产能。
  日置阻抗分析仪能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。日置阻抗分析仪投放市场后受到了广大新老客户的支持和好评,一台仪器结合了LCR电桥测试仪和电阻计的多项功能,如今为了响应更多用户的实际需求,特别设计并推出了这款软件IM9000。