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日本日置阻抗分析仪

简要描述:

1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查 LCR模式下Z快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量 基本精度±0.08%的高精度测量 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

更新时间:2019-07-05

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日本日置阻抗分析仪

日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM3570系列产品详细信息

日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM3570系列概述

日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM3570测量方式:压电元件的共振特性的测量LCR测试仪和阻抗分析仪合二为一的IM3570通过扫频测量和峰值比较器功能对共振状态进行合格判定,并在LCR模式想能通过1kHz或120Hz的LCR测量进行检查。扫频测量和LCR测量一台仪器全部实现。

 

日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM3570系列特点

★ 1台仪器实现LCR测量、DCR测量、扫描测量等的连续测量和高速检查

★ LCR模式下樶快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速测量

★ 基本精度±0.08%的高精度测量

★ 适用于压电元件的共振特性检查、功能性高分子电容的C-D和低ESR测量,电感器(线圈、变压器)的DCR和L-Q的测量

★ 分析仪模式下可进行扫频测量、电平扫描测量、时间间隔测量

★ 可以用于无线充电评价系统TS2400

 

日本日置HIOKI 阻抗分析仪IM3570系列规格

测量模式

LCR(LCR测量),分析仪(扫描测量),连续测量

测量参数

Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流电阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q

测量量程

100mΩ~100MΩ,12档量程(所有参数由Z确定)

显示范围

Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[单位]~9.999999G[单位],仅Z和Y显示决对值

θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999)

Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%)

基本精度

Z:±0.08%rdg. θ:±0.05°

测量频率

4Hz~5MHz(10mHz~100Hz步进)

测量信号电平

V模式,CV模式(普通模式)

50mV~1Vrms,1mVrms步进(1MHz以下)

10mV~1Vrms,1mVrms步进(1.0001MHz以上)

CC模式(普通模式)

10μA~50mA rms,10μA rms步进(1MHz以下)

10μA~10mA rms,10μA rms步进(1.0001MHz以上)

输出阻抗

普通模式:100Ω,低阻抗高精度模式:10Ω

显示

彩色TFT5.7英寸,可设置显示ON/OFF

测量时间

0.5ms(100kHz,FAST,显示OFF,代表值)

测量速度

FAST/MED/SLOW/SLOW2

其他功能

DC偏压测量,比较功能,面板读取和保存,存储功能

接口

EXT I/O,RS-232C,GP-IB,USB通讯,U盘,LAN

电源

AC90~264V,50/60Hz,樶大150VA

打印

拷贝测量值或屏幕显示的要点(需用9442,9593-01和9446)

接口

GP-IB,RS-232C,EXT.I/O(所有标准)

电源

AC90~264V,50/60Hz,樶大150VA

体积和重量

330W×119H×307Dmm,5.8kg

附件

电源线×1,使用说明书×1,通讯手册×1

 

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