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高频阻抗分析仪的基本测量方法
点击次数:80 发布时间:2022-03-28
  高频阻抗分析仪的技术要求与低频阻抗测量仪在设计技术,使用电路及机被结构等方面明显不同(包括测试电缆,自动平衡电桥和其他电路设计)。残余阻抗,相位漂移,传输损耗和“集总常数测量电路”结构容易产生有害的影响,在高频矢量测量中是无法确定的因素。而且这些影响随测试频率升高而增加,产生明显的测量误差,至使测量范围变窄。这样,在高频范围矢量测量中方便的方法是用“分布常量测量电路”。其优点是可以实现在宽的频率范围内电路性能不变,测量电路检测的矢量信号能用简单的数学式准确表示。
  高频阻抗分析仪的基本测量操作是:
  (1)按下电源开关键后,仪器A显示部分指示HP一IB地址,B显示部分指示选配件通告符号(如hr),此时仪器在进行温度控制电路的稳定,内部定时器延时工作10min,预热工作期间,仪器连续显示以上符号。进行10min预热后,自动转到测试状态。
  (2)如果要求测试精度,最少预热40min。之后使用参考终端阻抗在APC-7同轴接头对仪器进行初始校准,来消除仪器的系统误差对测量结果的影响。本身的校准件分别为:OQ的短路器,OS的开路器,50Ω的负载终端。首先注意上校准件前一定要保证仪器的测量端APC-7精密测头的清洁和干燥,然后按照自动校准的程序依次接入相应的终端,在使用频率范围内进行校准。测量准确性实际上取决于使用校准终端的准确性,即由校准的准确性控制。所以一定不能忽视测量前的仪器校准这一过程。
  (3)根据被测件的形状和测试频率选择合适的测试夹具,装上夹具后,设置测试条件,必须同时输入与测试夹具相应的电长度值(这是为了修正夹具对反射系数及相位的影响)。在实际测试中,夹具固有的残余参量引起的测量误差应予以考虑,确保测量的准确性,夹具参量必须进行修正,他的影响在高频段明显。
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