日置阻抗分析仪高速、高稳定测量，测量频率1MHz~300MHz,基本精度±0.72%rdg，紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小，节省空间。丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定），使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量。
　　日置阻抗分析仪特点：
　　1.不同测量条件下，1台进行高速测量
　　测量电容等零部件时，有时在不同条件下（频率、电平）测量多种测量项目，1条生产线中需要多台测量仪器。IM3570可再不同测量条件下进行高速连续测量，1台仪器即可满足所有要求。
　　2.检查速度提高了2倍（跟以往型号相比）
　　和HIOKI的以往型号（3532-50）相比，大大缩短了测量时间。LCR模式下，以往机型一般需要5ms的测量时间，而IM3570的检查速度提高了2倍。需要全数检查电子零部件的生产线中，IM3570发挥了作用。
　　3.测量的反复精度提高了1位（※1mΩ，100次测量时）
　　功能性高分子电容在推进低ESR化的同时，要求正确测量多个mΩ。IM3570在测量低阻抗时的精度比以往机型提高了1位，因此为用户提供稳定测量。
　　4.广范围的测量频率
　　日置阻抗分析仪可在DC和4Hz～5Hz的范围内设置5位分辨率的频带（1kHz以下为0.01Hz分辨率）。可在接近共振频率的测量和工作条件的状态下进行测量和评价。
　　5.15种测量参数
　　可测量Z、Y等15种参数，并将需要的参数读取至计算机中。
　　6.具备防止误操作的接触检查功能
　　装载了4端子测量、2端子测量的接触检查功能。防止在测量电极不接触被测物的状态下测量的情况，因此可以避免出现未检查的产品出厂。
　　7.广范围的测量电压/电流
　　外加一般的开路信号发生，可在恒压/恒流模式下进行考虑到电压/电流依存性的测量。可设置广范围的、5mV~5V/10μA~50mA（~1MHz）以下的测量信号电平。
　　8.测试线可延长至4m
　　4端子的构造可降低测试线的影响，测试线长达4m仍可保证精度。从而便于自动设备的配线。
　　日置阻抗分析仪在信息化发展的今天，为了收发大容量的数据，高速差分传输等传输线也在高速发展之中。这类高速传输线的延迟时间偏差的改善和干扰对策中所使用的共模滤波器及铁氧体磁珠等电子元件也随之向高频化发展。