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高频阻抗分析仪测试结果一目了然
点击次数:122 发布时间:2020-06-23
   高频阻抗分析仪测试结果一目了然 — CITS自动处理数据,清楚显示随距离而变的特征阻抗,给出通过/失败状态。自动数据记录功能让你能够将测试结果(连同系统设置数据和测量标准)导出到多种第三方数据库或电子表格软件包,进行实时统计过程控制。还可以通过仪器背板上的光隔离信号使用每次测试的通过/失败状态,便于与其他工厂自动化设备集成在一起。
  高频阻抗分析仪产品特点:
  1.可进行较高3GHz的稳定的高频测量
  的测量频率是1MHz~3GHz。在改变频率的同时进行测量的分析仪的模式下宽频带的话则可以进行偏差较小的稳定的阻抗评估,因此能够从电子元件的开发到生产线上等各种领域内使用。
  至短0.5ms的高速测量,有助于提高生产性
  至短0.5ms(0.0005秒)的高速测量。因此,对于希望能够快速检查大量电子元件的生产厂家来说,大幅提高了生产效率。
  2.主机尺寸小巧,降低生产成本
  可以实现为了提高空间效率的检查系统的小型化,以及通过同时安装多台来缩短检查时间,从而降低生产成本。而且,这类测量仪器非常的轻巧方便携带,能够在研发、品保、生产线等多种场合同时使用,放在桌上也不会占太多空间。
  3.各种判定功能,判断合格与否
  单一频率测量的LCR测试仪模式下,有判断电子元件合格与否的比较器功能、挑选电子元件的BIN功能。比较器功能是设置上下限值,并以其为判断标准进行合格与否的判断。相对于以1个判断标准判断合格与否的比较器功能,BIN功能至多可以设置10种判断标准,并进行排名。
  多种频率测量的分析模式下,有从电子元件的频率特性中能判断合格与否的区域判定、峰值判定。区域判定是确认测量值是否进入任意设置的判定区域内的功能。峰值判定是判定共振点的功能。
  另外,还具有任意设置多种频率,并以此设定值为基础判断合格与否的点判断功能。
  高频阻抗分析仪检定系统适用于射(高)频集总参数阻抗计量器具(即检测20kHz-1GHz频段的R,L,C元件和材料电磁特性所有物仪器设备和量具、标准件),规定了射频(习惯上也称高频)集总参数阻抗量的量值溯源途径、传递程序及计量器具的检定方法。
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